२१.१२°C काठमाडौं
परीक्षाफलमा देखिएको त्रुटिमाथि छानबिन हुने
काठमाडौँ — माध्यमिक शिक्षा परीक्षा (एसइइ) को परीक्षाफलमा देखिएको प्राविधिक त्रुटिका विषयमा छानबिन हुने भएको छ । शनिबार सार्वजनिक कक्षा १० को परीक्षाफलमा प्राविधिक गडबडी भएको पाइएपछि केही विद्यार्थीको नतिजामा आइतबार ग्रेड वृद्धि भएको थियो ।
राष्ट्रिय परीक्षा बोर्ड मातहतको परीक्षा नियन्त्रण कार्यालयका नियन्त्रक अम्बिकाप्रसाद रेग्मीले प्राविधिक त्रुटि सुधार गरी विद्यार्थीलाई वास्तविक ग्रेडसिट उपलब्ध गराइएको र छानबिनका लागि शिक्षा, विज्ञान तथा प्रविधि मन्त्रालयमा पठाइएको जानकारी दिए ।
प्रकाशित : असार ११, २०७५ १८:०९प्रतिक्रिया
